EM-DR1-IS-5-RTB-28V/V，60004-003現(xiàn)貨供應

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旋轉(zhuǎn)編碼器會將機械輸入轉(zhuǎn)換為電信號，可由計數(shù)器、轉(zhuǎn)速計、可編程邏輯控制器和工業(yè) PC 處理。

 編碼器軸受力是軸承損壞的主要原因。軸承可能受到徑向和軸向的兩種負載。通常軸承的負 載來自安裝誤差及滾輪或傳動齒輪。當徑向和軸向的負載增加，軸承壽命變短。因此編碼器 安裝時減少軸承負載和安裝誤差非常重要。

? 編碼器軸通過柔性聯(lián)軸器連接被測軸。聯(lián)軸器補償旋轉(zhuǎn)編碼器與驅(qū)動軸之間的軸向和徑向不 對正量（徑向和角度不對正量）。這樣確保旋轉(zhuǎn)編碼器軸承無外力作用和外力不影響使用壽 命。如果編碼器軸受力較大，例如摩擦輪、皮帶輪或鏈輪應用中，奧凱特公司建議安裝軸承 組件緩沖。

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侵入指異物進入軸承。軸承是精密元器件，任何異物的進入將導致軸承壽命急劇下降。正因

為這個原因，很多編碼器采用了密封機構(gòu)來防止異物侵入。

旋轉(zhuǎn)編碼的機械壽命主要由軸承決定。軸承的預期使用壽命取決于軸負載、溫度、軸速和異

物。

? 前面所討論的情況一起決定軸承的壽命。我們可以通過減少安裝誤差產(chǎn)生的軸受力，采用適

當?shù)拿芊夥乐巩愇锖捅苊獠槐匾母邷貋硖岣咻S承壽命。

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電子式式"編碼器與“真值編碼"的編碼器比較會有什么問題？

電子式式編碼器內(nèi)部的工作原理是依賴于運動起來讀數(shù)加上前次記憶數(shù)據(jù)相比較，獲得

的位置信息，這樣與“真值編碼"器比較，就會有這三部分出錯可能性：

首先是運動起來的讀數(shù)計數(shù)累計，這個部分可能會受到各種內(nèi)部及外部電氣環(huán)境干擾因素的

影響或器件小概率失效因素的影響而讀錯，它與值編碼不同，值編碼由于位置信息

始終存在，即使一次性小概率讀數(shù)失效，并不影響下次的讀數(shù)性，而通過讀數(shù)計數(shù)的失

效，如果您對該產(chǎn)品或類似的解決方案感興趣，請與BEI中國銷售供應商派儀（上海）測量技術(shù)有限公司聯(lián)系。可以影響到下一次的讀數(shù)累計，這種錯誤無法區(qū)隔判斷，并在時間上和各個位置上的信

息輸出延續(xù)下去；而在斷電以后的讀數(shù)，是依賴于電池、電容供電，或威根應極小的發(fā)

電能量存儲供電，因所供電能有限，其抗干擾性更差，并讀數(shù)頻次低，當快速旋轉(zhuǎn)編碼器或

外部有很大的干擾影響下，很有可能來不及計數(shù)累加或受干擾而出現(xiàn)讀數(shù)錯誤，并累加延續(xù)。

其二，在于累加計數(shù)的記憶體，這種記憶體因電能有限，或因記憶能量型元器件的問題，例

如電池的失電后、電容及威根應存儲的的容量有限性、存儲數(shù)據(jù)的電容的被干擾耦合數(shù)

據(jù)失真，存儲數(shù)據(jù)再次采集的數(shù)據(jù)失真、電池的低溫失效，電池的高溫爆炸、記憶能量體和

數(shù)據(jù)記憶體的壽命，等等各種因素都會影響到其記憶數(shù)據(jù)及再次采集是否可能失真失效。

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什么是威根德效應編碼器？

有一些電子多圈編碼器，其多圈計圈數(shù)是用威根德效應的原理。

在上世紀 60 年代,John·Wiegand 發(fā)現(xiàn),通過適當處理的磁性金屬絲,內(nèi)芯和外層存在著較大

的差異性,在一定的條件下便可產(chǎn)生兩種狀態(tài)的轉(zhuǎn)換.對此效應人們稱之為威根德(Wiegand)

效應,類似于這種特征的絲稱之為威根德絲。用這種絲制成的磁敏傳感器，在經(jīng)過磁場的 NS

變化時，可產(chǎn)生無需供電的尖峰脈沖，威根德傳感器具有工作溫度高(可達 200℃),不需要任

何外加電源便可輸出較高的脈沖電壓(可達 5~6V),可直接與計算機接口.因而在許多場合己

得到應用。以這種原理制成的傳感器叫“威根德傳感器"，這種傳感器幾乎無需電源，甚至

其產(chǎn)生的尖峰可以用電容存儲，以威根德傳感器內(nèi)部計數(shù)并尖峰微小能量由電容存儲的編碼

器，早在上個世紀 90 年代即產(chǎn)生了產(chǎn)品，但是當時的技術(shù)條件性能很不穩(wěn)定，在近年低功

耗電子元器件的出現(xiàn)，使得這個產(chǎn)品漸漸成熟走向市場，但是它的可靠性有限，目前只能用

于計圈數(shù)，（因計圈數(shù)次數(shù)少，頻次低，可靠性因素反映出現(xiàn)概率低），而單圈碼盤用值

碼盤（例如磁電原理）。

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